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型號
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名稱
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總放大倍數
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測量范圍
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分辨率
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精度
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備注
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9J
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光切法顯微鏡
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目視:510X
攝影裝置放大倍數:約6倍
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表面光潔度范圍
1.0～80um
(▽3-▽9)
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基本款
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9JD
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光切法顯微鏡
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目視:510X
攝影裝置放大倍數:約6倍
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表面光潔度范圍
1.0～80um
(▽3-▽9)
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配USB攝像頭.
連接電腦,可拍攝儲存
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9JV
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光切法顯微鏡
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目視:510X
攝影裝置放大倍數:約6倍
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表面光潔度范圍
1.0～80um
(▽3-▽9)
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加配高品質數碼相機
不接電腦,也可以直接拍攝儲存
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型號
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名稱
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總放大倍數
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測量范圍
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分辨率
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精度
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備注
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33JA
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入射式讀數顯微鏡
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62.5X
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1mm
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0.001mm
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非常小巧.
1.高倍數
2.高精度
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型號
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名稱
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總放大倍數
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測量范圍
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分辨率
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精度
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備注
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JXD-B
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讀數顯微鏡
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30X,標配
80X,選購
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0-50MM
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0.01mm
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0．015mm
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JXD-250A
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讀數顯微鏡
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30X,標配
80X,選購
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0-250MM
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0.01mm
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0．015mm
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1.坐標中測定長度，例如：孔距,基面距離,刻線寬度,鍵槽寬度,狹縫寬度,內,外圓直徑等。
2.轉動度盤測定角度，例如：樣板,量規鉆孔模板及幾何形狀復雜的零件進行外形和角度測量。
3.用作觀察顯微鏡，以比較法檢查工作表面光潔度,鑒定冶金工業的礦石標本,檢驗纖維及印刷,照相和電子行業的細微作業等。
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型號
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名稱
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總放大倍數
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測量范圍
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分辨率
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精度
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備注
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15J
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測量顯微鏡
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25X-100X
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X-Y：50x13mm
刻度盤分度:0-360o,分度值6′
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0.01mm
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±(5+L/15)umL－被測件長度mm
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無光源,
機械讀數
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15JA
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測量顯微鏡
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25X-100X
|
X-Y：50x13mm
刻度盤分度:0-360o,分度值6′
|
0.01mm
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±(5+L/15)umL－被測件長度mm
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有下照明光源
機械讀數
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15JE
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測量顯微鏡
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25X-100X
|
X-Y：50x13mm
刻度盤分度:0-360o,分度值6′
|
0.001mm
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±(5+L/15)umL－被測件長度mm
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本身無光源,可選購光源.
數顯讀數
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15JF
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測量顯微鏡
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25X-100X
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X-Y：50x13mm
刻度盤分度:0-360o,分度值6′
|
0.001mm
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±(5+L/15)umL－被測件長度mm
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有上下光源,
液晶數顯讀數
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型號
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名稱
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總放大倍數
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測量范圍
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分辨率
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精度
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備注
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107J
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研究型測量顯微鏡
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40X-400X
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工作臺150*150mm
測量范圍:X-Y:50*50mm
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機械讀數:0.001
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2-3微米以內
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107JA
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研究型測量顯微鏡
|
40X-400X
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工作臺150*150mm
測量范圍:X-Y:50*50mm
|
數顯讀數:0.0005
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2-3微米以內
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107JC
|
研究型測量顯微鏡
|
40X-400X
|
工作臺150*150mm
測量范圍:X-Y:50*50mm
|
數顯讀數:0.0005
|
2-3微米以內
|
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|
107JV
|
研究型測量顯微鏡
|
40X-400X
|
工作臺150*150mm
測量范圍:X-Y:50*50mm
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數顯讀數:0.0005
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2-3微米以內
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三維測量
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107JPC
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研究型測量顯微鏡
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40X-400X
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工作臺150*150mm
測量范圍:X-Y:50*50mm
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數顯讀數:0.0005
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2-3微米以內
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成像系統,加測量軟件
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107JPCV
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研究型測量顯微鏡
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40X-400X
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工作臺150*150mm
測量范圍:X-Y:50*50mm
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數顯讀數:0.0005
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2-3微米以內
|
三維測量
成像系統,加測量軟件
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-
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-
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型號
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名稱
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總放大倍數
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測量范圍
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分辨率
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精度
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備注
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6JA
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干涉顯微鏡
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目視:500X
照相:168X
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表面光潔度范圍
0.03～1μm
(▽10～▽14)
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0.01mm
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型號
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名稱
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工作臺測量范圍
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工作臺調平范圍
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分辨率
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CANY-19
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測量顯微鏡
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100*100
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±5MM
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0.0005MM
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-
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